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调和测度:几何与分析的观点(影印版)
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商品名称:调和测度:几何与分析的观点(影印版)
物料号 :50307-00
重量:0.000千克
ISBN:9787040503074
出版社:高等教育出版社
出版年月:2018-08
作者:Luca Capogna 等
定价:99.00
页码:155
装帧:精装
版次:1
字数:280
开本:16开
套装书:否
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事业部
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几何测度论和调和分析的新近发展带来了相关领域一系列的发展。例如表现为“近似”于欧几里得体积的测度支集的正则性理论获得了深刻的结果,最令人意想不到的是借助于该测度的渐进性,从而刻画了支集的平坦性特征,而这些特征引发了非光滑区域的调和测度的研究中重要的新进展。 本书给出了此领域中最新研究成果的概览和介绍。本书内容基于 Carlos Kenig 于 2000 年在Arkansas 大学的 Arkansas 春季系列讲座中的五讲的讲义,另加以扩充和更新以反映这个领域的快速发展。此外, 还增加了一章平面情形提供历史回顾。 本书包含了背景知识的介绍,便于高年级的研究生和调和分析及几何测度论领域的研究人员理解。

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